Zeta电位及纳米粒度分析仪

Name: Zeta电位及纳米粒度分析仪
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产品详情

NANOTRAC WAVE II采用先进的“Y”型光纤探针光路设计，配置膜电极产生微电场，操作简单，测量迅速，无需精确定位由于电泳和电滲等效应导致的静止层，无需外加大功率电场，无需更换分别用于测量粒度和Zeta电位的样品池，完全消除由于空间位阻（不同光学元器件间的传输损失，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差异，分散介质的影响，颗粒间多重散射等）带来的光学信号的损失，结果准确可靠，重现性好。

技术参数

- 测量原理：动态光散射法

- 测量范围：0.3 nm - 10 µm

- 检测角度：180°

- 重复性：±1%

- Zeta电位范围：-200mV~+200mV

- Zeta粒径范围：10nm~20μm

- 电泳迁移范围：0 - 15 (µm/s) / (V/cm)

- 电导率范围：0 - 10 mS / cm

- 分子量范围：<300 Da -> 20 x 106 Da

- 控温范围：+4°C ~ +90°C

- 温度精度：±0.1℃

- Zeta测量重复性：±3%

Nanotrac Flex：180°动态光背散射

Nanotrac Wave II：动态光背散射

粒径与粒形分析方法

方法名称	激光衍射	动态光散射	动态图像分析	静态图像分析
测量范围	10nm-4000μm	1nm-6500nm	0.8μm-135mm	0.5μm-1500mm
尺寸计算方法	间接/来自光散射图案	间接/来自布朗运动	直接/来自颗粒图像
单个粒径分析	无	无	有	有
测量速度	10-60秒	30-180秒	2-5分钟	10-60分钟
粒形分析	√（SYNC型除外）	×	√	√
湿性分析	√	√	√	√
干性分析	√	×	√	√
Zeta电位&分子量	×	√	×	×
优势	效率、样品多样性、重复性	纳米材料分析，浓度范围宽	效率、样品多样性、重复性、高精度、高分辨、参数多样性	最高精度的形貌测量